日本王子计测OSI光学轴测定装置
发表时间:2022-03-16 10:33
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日本王子计测OSI光学轴测定装置
王子計測光学軸測定装置 PAM-PR300
■特長
測定方式:回転偏光子法、平行ニコル回転法、直交ニコル回転法
測定波長:590nm(オプション:450nm,550nm, 630nm)
試料寸法:□30~250mm,20mm厚以下
測定面積:33mm2(5.8mm角:受光子面)
測定項目:偏光軸方位、配向角、位相差
測定対象:光学フィルム、偏光板
測定時間:約4秒(偏光軸測定)
王子計測機器株式会社
計測機器の開発
(正文已结束)
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